Eclairage pour la microscopie - Champ sombre

D’une configuration en champ sombre (angle d’éclairage nul) à une configuration en champ rasant (angle d’éclairage rasant)

Eclairage en champ sombre DF-5400

Dédié à l’inspection des surfaces et contours, le systèmes d'éclairage DF-5400 offre une exceptionnelle rapidité de détection grâce à sa lumière directionnelle. L’inspection d’échantillons se réalise aussi bien à l’œil nu avec une utilisation en configuration autonome ou sous un microscope pour une examination plus détaillée.

L’éclairage DF-5400 est facile à mettre en place et à apposer à un système optique. Cette solution d’éclairage s’utilise avec toutes les marques de microscopes: Zeiss, Olympus, Nikon, Leica ou autres.

Dans une configuration en champ sombre, une lumière puissante et précise entoure l'échantillon. L’angle d’éclairage rasant, par les côtés, donne des images à contrastes élevés accentuant les bords de l'échantillon et l’état de surface; des informations clés sont révélées sur la qualité de manufacture des composants en métal, verre ou plastique et la détection des dépôts de matière est optimale.

La température colorimétrique du champ sombre est de 5400 K (6500 K en option). Indépendamment du nombre d’heures d’utilisation, la température colorimétrique du produit reste constante sur toute sa durée de vie. Cette constance permet à l’utilisateur de maintenir des standards de qualité stables au cours du temps.

Vos avantages

  • - Forte directionnalité de la lumière
  • - Inspection à l’œil nu ou sous un microscope
  • - Adaptabilité à différents microscopes ou caméras
  • - Facilité de mise-en-place
  • - Système 2 en 1: de champ sombre à champ rasant
  • - Qualité de lumière stable dans le temps
  • - Pas d’entretien
  • - Possibilité de combiner ce système avec un système en champ clair (BF-5400)

Combinaison du champ sombre et du champ clair sur Olympus

Combinaison du champ sombre et du champ clair sur Zeiss

Echantillons sous microscope

Inspection facilitée de l'usinage et des taraudages

Inspection facilitée des dépôts de matière

Excellente vision des gravures et de la qualité du marquage

Inspection facilitée des rayures et de la qualité du marquage

Voyez par vous-même!

Vous êtes un professionnel et nos solutions éveillent l’intérêt de votre entreprise? Contactez-nous pour organiser une visite dans notre espace de démonstration et testez nos produits sur site. Nous serons ravis de vous recevoir.

Accessoires

Axe élévateur

D’une configuration en champ sombre (angle d’éclairage nul) à une configuration en champ rasant (angle d’éclairage rasant), il permet d’ajuster l’élévation de l’anneau de lumière et facilite l’inspection précise d’échantillons à différentes hauteurs variant de 10 à 50 mm.

Diffuseur DF

Il offre un rendu plus doux des images lors de l’observation d’échantillons très réfléchissants. Il se place et s’enlève facilement.

Station d’accueil

Elle permet d’optimiser l’emplacement des produits et de positionner deux systèmes (champ clair et champ sombre par exemple) de façon compacte, soit directement sur le microscope, soit sur le plan de travail.

Alimentation secteur

Disponible avec des fiches secteur européen, japonais ou anglais, elle permet de transporter et d’installer le système facilement.